English 
PCM261 Погружной датчик уровня
Особенности
■Используется пьезорезистивный кремниевый чип
■Режим измерения вставки зонда, простая и удобная установка
■Пользовательский фланец
■Цельнометаллическая бронированная, высокопрочная стальная труба
■Конструкция с несколькими защитными конструкциями, высокая защитная способность
■ ЖК-дисплей
■ Коррозионностойкая нержавеющая сталь применяется в различных областях промышленности
Параметры продукта
Pressure range | |
Pressure range | 0.5m, 1m, 2m, 5m, 10m, 20m, 50m, 100m, 200m H2O |
Overpressure | 150%F.S. |
Output signal | |
Output | 4 to 20mA| 1 to 5V| 0 to 5V |
Specification | |
Accuracy (linearity, repeatability and hysteresis) | ±0.5%F.S. |
Excitation | 24VDC| 12VDC |
Operating temp. | 0-85ºC |
Medium temp. | -20-85ºC |
Storage temp. | -40-125ºC |
Compensated temp. | 0m-10m H2O: 0-60ºC | 10m-200m H2O: -10-70ºC |
Zero temp. coefficient | ±1.5%F.S.max.(within compensated temp.) |
Span temp. coefficient | ±1.5%F.S.max.(within compensated temp.) |
Mechanical vibration | 20g(20 to 5000HZ) |
Shock | 100g(11ms) |
Insulation | 200MΩ/250VDC |
Response time | ≤1ms(up to 90%FS) |
Long term stability | ≤0.2%F.S.S/year |
Protection | IP68 |
Material | Low copper aluminum alloy for junction box, stainless steel for probe; Stainless steel for flange |
Medium compatibility | All kinds of media compatible with 304 stainless steel |
Преимущество компании
Массовое производство
нас есть один производственный центр в Нанкине и один производственный центр в Аньшане ,итог 20 000 установок и 170 единиц производственного оборудования. Основная годовая мощность датчиков составляет около 2 000 000 штук.
Импортные оборудования
Мы импортировали на нашу производственную линию 20 комплектов контроллера давления и 150 шт испытательных печей.
Управление информатизацией
Информационные системы управления
Комплексные тестирования
У нас есть собственная лаборатория и испытательное оборудование, такое как удар молнии, помпаж, статическое электричество, вибрация, испытание на удар при высокой и низкой температуре и обнаружение утечки в гелиевом масс-спектре.
