ООО «WTsensor»

Производитель сенсоры

Вы здесь: WT ГЛАВНАЯ > Продукция > Датчик давления

  • PCM302(WTE02 )Датчик давления
  • PCM302(WTE02 )Датчик давления
  • PCM302(WTE02 )Датчик давления
  • PCM302(WTE02 )Датчик давления
  • PCM302(WTE02 )Датчик давления

PCM302(WTE02 )Датчик давления

■Кремниевый пьезорезистивный  чип  

■ MEMS технология                 

■EXIA IIC T6


Параметры продукта

Диапазон давления

Диапазон давления

100kPa, 250kPa,   400kPa, 600kPa,   1MPa, 1.6MPa, 2.5MPa, 4MPa, 6MPa, 10MPa, 16MPa, 25MPa, 40MPa, 60MPa,100MPa (бар и   psi единицы возможно)

Виды давления

Абсолютное | Избыточное| Мановакуумметрическое

Перегрузка

200%F.S.(<25MPa) |150%F.S(≥25MPa)

Выходной сигнал

Выход

4   to 20mA

Характеристики

Точность,(в том числе линейность, гистерезис, повторяемость)

±0.5%F.S.   (Typical)

Напряжение питания

24VDC

Диапазон термокомпенсации

-10-70℃(статарный)/-20-85℃(доступный)

Диапазон температуры рабочих сред

-20-125℃

Диапазон температуры хранения

-40-125℃

Коэффициент «нуля»

±1.5%F.S.(   -10-70℃)

Коэффициент «диапазона»

±1.5%F.S.(   -10-70℃)

Штуцер для подключения давления

Смотрите на следующую   страницу ”Способ заказа”

Степень защиты корпуса

IP65

Материал корпуса

Нержавеющая сталь 304 (SS316 материал мембраны)

 

Долговременная стабильность

≤0.2%F.S./year

Искробезопасное исполнение

EXIA   II CT6


Преимущество компании

Массовое производство

нас есть один производственный центр в Нанкине и один производственный центр в Аньшане ,итог 20 000 установок и 170 единиц производственного оборудования. Основная годовая мощность датчиков составляет около 2 000 000 штук.

Импортные оборудования

Мы импортировали на нашу производственную линию 20 комплектов контроллера давления и 150 шт испытательных печей.

Управление информатизацией

Информационные системы управления

Комплексные тестирования

У нас есть собственная лаборатория и испытательное оборудование, такое как удар молнии, помпаж, статическое электричество, вибрация, испытание на удар при высокой и низкой температуре и обнаружение утечки в гелиевом масс-спектре.